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半导体电测分析工程师（苏州）
Bosch Group · Suzhou
Mid
zh
芯片ATE测试
失效验证
光子发射显微镜
光束诱导电阻变化
晶圆级电性测试
CAD导航软件Avalon
静电放电
闩锁效应
电迁移
分析树
鱼骨图
多维度数据交叉验证
英语
德语
Job description
职位概况
负责半导体芯片ATE测试数据的解读与失效验证，运用光子发射显微镜、光束诱导电阻变化等核心技术，对晶圆级电性进行测试，定位并分析失效点。
主要职责
- 解读芯片ATE测试数据，开发失效验证测试方法。
- 操作光子发射显微镜、光束诱导电阻变化等设备。
- 执行晶圆级电性测试，结合CAD导航软件Avalon进行版图分析。
- 撰写失效分析报告，维护探针台及电测设备。
- 管理样品制备与测试流程，协调产品、设计、工艺团队。
任职要求
- 本科及以上学历，微电子、电子科学与技术、半导体物理或材料科学等相关专业。
- 3年以上半导体失效分析、芯片测试或相关领域工作经验。
- 熟悉晶圆制造与封装工艺，了解静电放电、闩锁效应、电迁移等失效机理。
- 具备跨部门协调能力，能够将技术语言转化为可执行方案。
- 英语读写说流利，具备德语能力者优先。
必备技能
- 芯片ATE测试数据解读
- 失效验证测试方法开发
- 光子发射显微镜操作
- 光束诱导电阻变化技术
- 晶圆级电性测试
- CAD导航软件Avalon使用
- 静电放电、闩锁效应、电迁移失效机理
- 分析树、鱼骨图等系统性问题排查方法
- 多维度数据交叉验证
- 英语流利，德语佳
Questions fréquentes
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Source : ats:smartrecruiters
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